Detta mycket professionella instrument gör det möjligt att mäta många parametrar och visa profilen som visas. Utrustad med en fjärrkontroll för att undvika rörelser under mätningen och är lämplig för användning både i produktion och i laboratorium, samt för användning på teststativ. Vanligtvis används för kvalitetskontrollaktiviteter och för att kontrollera inkommande och utgående varor.

Mätområde: Ra. Rq: 0,005-80 µm, Rz, R3z, Ry, Rt, Rp, Rm: 0,02-320µm Sk: 0-100% S,Sm: 1 mm tp: 0-100%

Specifikationer:

Parametrar: Ra, Rq, Rz, Rt, Rp, Rv, RS, RSm, Rz (JIS), Ry (JIS), RSk, R3z, Rmax, Rpc, Rmr, Rku, RΔa, RΔq, Rδc, Ry, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, V0

Tekniska specifikationer:

Upplösning: 0,001 μm [< 10 μm] ; 0,01 μm [10 μm ≤ n < 100 μm] ; 0,1 μm [> 100 μm]
Noggrannhet: <=+/- 10%
Repeterbarhet: <=6%
Mätenhet: µm, mil
Stylus radie: 10 µm
Mätenheter: µm, mil
Grafisk shärm: ytjämnhets profil, materialförhållande kurva, direkt profil
Digitala filtrer: RC, PC-RC, Gauss, D-P
Stylus radie: 5 µm
Stylus material: Diamant
Mätkraft: <4 mN
Vinkel: 90º
Cutoff: 0,25 mm; 0,8 mm; 2,5 mm
Utvärderings längd: 1-5 Cutoff
Max körsträcka: 17,5 mm
Körhastighnet: Cutoff 0,25 mm=0,15 mm/s; cutoff 0,8 mm=0,5 mm/s; cutoff 2,5 mm=1 mm/s; återvändning=1 mm/s
Minne: 20 grupper+ SD kort lucka
Datautgång: Ja
Auto avstängning: Ja
Strömförsörjning: Uppladningsbart batteri
Storlek: 112x50x47 mm
Vikt: 360 g

Standard leverans: Instrument, standardsond, sondmantel, justerbar ben, ytjämnhetsstandard för kalibrering, väska, manual

Tillbehör: Skrivare, grafisk mjukvara, förlängningsstav*, sond för små hål*, djup spårsond*, böjd prob*, stativ, ytjämnhetsstandard för kalibrering, kalibreringsbevis

(*) - används med stativ